Sfh6106-3 geïntegreerde schakeling Chip Optocoupler, Fototransistoroutput, Hoge Betrouwbaarheid, 5300 VRMS
electronic integrated circuit
,digital integrated circuits
SFH610A/SFH6106
Optokoppeling, Fototransistoroutput, Hoge Betrouwbaarheid, 5300 VRMS
Eigenschappen
• Goede CTR-Lineariteit afhankelijk van Voorwaartse Stroom
• Het Voltage van de isolatietest, 5300 VRMS
• Hoog collector-Zender Voltage, VCEO = 70 V
• Laag Verzadigingsvoltage
• Snelle Omschakelingstijden
• Lage CTR-Degradatie
• Temperatuurstal
• Lage Koppelingscapacitieve weerstand
• Beëindigen-stapelbaar, 0,100 die“ (2,54 mm) uit elkaar plaatsen
• De hoge Immuniteit van de gemeenschappelijk-Wijzeinterferentie
• Lood (Pb) - vrije component
• Component in overeenstemming met RoHS 2002/95/EG en WEEE 2002/96/EG
Bureau Goedkeuring
• UL1577, dien Nr in. E52744 Systeemcode H of J, Dubbele Bescherming
• DIN-EN 60747-5-2 (VDE0884)
DIN-EN hangende 60747-5-5
Beschikbaar met Optie 1
• CSA 93751
• BSI IEC60950 IEC60065
Beschrijving
SFH610A (ONDERDOMPELING) en SFH6106 (SMD) kenmerken een hoge huidige overdrachtverhouding, een lage koppelingscapacitieve weerstand en een hoog isolatievoltage. Deze koppelingen hebben een GaAs infrarode diodezender, die optisch aan een detector van de silicium vlakfototransistor, wordt gekoppeld en in een plastiek onderdompeling-4 of SMD-pakket opgenomen. De koppelingsapparaten worden ontworpen voor signaaltransmissie tussen twee elektrisch gescheiden kringen. De koppelingen zijn Beëindigen-stapelbaar met 2,54 mm het uit elkaar plaatsen.
Creepage en ontruimings de afstanden van > 8,0 mm worden bereikt met optie 6. Deze versie voldoet aan CEI 60950 (DIN VDE 0805) voor versterkte isolatie tot een verrichtingsvoltage van 400 VRMS of gelijkstroom. Voor wijzigingen vatbare specificaties.
Absolute Maximumclassificaties
Tamb = 25 °C, tenzij anders gespecificeerd
Beklemtoont meer dan de absolute Maximumclassificaties kan permanente schade aan het apparaat veroorzaken. De functionele verrichting van het apparaat is niet impliciet bij deze of een andere voorwaarden meer dan die gegeven in de operationele hoofdstukken van dit document. De blootstelling aan absolute Maximumclassificatie voor lange perioden van de tijd kan betrouwbaarheid ongunstig beïnvloeden.
Input
| Parameter | Beproevingsomstandigheid | Symbool | Waarde | Eenheid |
| Omgekeerd voltage | VR | 6.0 | V | |
| Gelijkstroom door:sturen stroom | ALS | 60 | mA | |
| De schommeling door:sturen stroom | t ≤ 10 µs | IFSM | 2.5 | A |
| Machtsdissipatie | Pdiss | 100 | mw |
Output
| Parameter | Beproevingsomstandigheid | Symbool | Waarde | Eenheid |
| Collector-zender voltage | VCE | 70 | V | |
| Zender-collector voltage | VEC | 7.0 | V | |
| Collectorstroom | IC | 50 | mA | |
| t ≤ 1,0 Mej. | IC | 100 | mA | |
| Machtsdissipatie | Pdiss | 150 | mw |
Koppeling
| Parameter | Beproevingsomstandigheid | Symbool | Waarde | Eenheid |
| Het voltage van de isolatietest tussen zender en detector, verwijst naar klimaat DIN 40046, deel 2, 74 Nov. | VISO | 5300 | VRMS | |
| Creepage | ≥ 7,0 | mm | ||
| Ontruiming | ≥ 7,0 | mm | ||
| Isolatiedikte tussen zender en detector | ≥ 0,4 | mm | ||
| Vergelijkende Volgende index per DIN-CEI 112/VDEO 303, deel 1 | ≥ 175 | |||
| Isolatieweerstand | VIO = 500 V, Tamb = 25 °C | RIO | ≥ 1012 | Ω |
| VIO = 500 V, Tamb = 100 °C | RIO | ≥ 1011 | Ω | |
| De waaier van de opslagtemperatuur | Tstg | - 55 aan + 150 | °C | |
| Omgevingstemperatuurwaaier | Tamb | - 55 aan + 100 | °C | |
| Verbindingstemperatuur | Tj | 100 | °C | |
| Het solderen temperatuur | max. 10 s.-onderdompeling die afstand solderen aan plaatsingsvliegtuig ≥ 1,5 mm | Tsld | 260 | °C |
Pakketdimensies in Duim (mm)

